測量方法

HPXRF -高精度X射線熒光光譜法

檢測對象

固體，液體，粉末

最佳元素范圍

S、Cl、Si、P

測試含量范圍

S  0.5ppm-10%；Cl 0.5ppm-10%；Si  1.5ppm-10%;  P  0.5ppm-10%

樣品室環境

常壓大氣

X射線管

30kV max，1mA max，25W max

探測器

高性能fastSDD，分辨率≤125eV

高壓電源

30kV max，1mA max，30W max

光學系統

雙曲面彎晶， 高效率單色聚焦X射線源

數據處理平臺

工業電腦：CPU主頻1.5 GHz, 4核; LPDDR4 2GB內存;

64GB閃存; 屏幕尺寸：7寸屏幕像素：800*480 pixels

軟件

運行環境：   Linux操作系統

算法優勢：基本參數FP法，樣品類型適用性強， 且分析結果準確

功能特點：使用簡便，傻瓜式操作；功能豐富； 配置靈活

測量時間

30-300S

測量模塊

油品中硫、氯、硅、磷等元素含量，高硫樣品中低氯含量

典型元素檢出限

S≤0.5ppm，Cl≤0.5ppm，Si≤1.5ppm， P≤0.5ppm

重復性

樣品連續測試7次RSD≤10%

工作環境

溫度 -5℃ -50℃ ，濕度20% -85%

電源

AC/DC 電源適配器：100-240VAC, 50/60Hz

重量

10.5kg，不含選配件    

外型尺寸(cm)

35 cm (L) x 26 cm (W) x 27 cm(H)